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• 創新實驗室V2.0裝置再更新、能力再更新；
• 助力産業更新，主打開放性，先進性，本地化協作共赢；
• 線上線下多元化互動，直擊測試痛點。
泰克先進半導體開放實驗室，作為北京先進半導體測試領域的領軍者，今日宣布其實驗室經過全面更新後，推出Version 2.0并在京盛大揭幕。泰克科技中國區分銷業務總經理宋磊為本次盛會做了開幕緻辭，同時我們有幸邀請到了第三代半導體産業技術創新戰略聯盟副秘書長高偉博士，中關村天合寬禁帶半導體技術創新聯盟副秘書長侯喜峰，國家新能源汽車創新中心功率測試平台負責人郭大銘作為特邀演講嘉賓，泰克科技技術總監張欣也在現場做了精彩分享。泰克的合作夥伴飛仕德，衆力為， 歐菲特等更在會上展示了和泰克通力合作，在第三代半導體應用上取得的成就。
此次更新不僅是技術解決方案的飛躍，更是對創新精神的一次深刻展現，旨在擴充全面的測試能力，提供一站式解決方案，打造一個開放、協作、共赢的生态平台，攜手使用者共同應對新技術測試的挑戰。
第三代半導體不是一個全新的話題，其蓬勃發展的态勢已經形成，對應的測試需求與日俱增。泰克公司作為測試測量領域的佼佼者，一直緻力于提升企業核心競争力，創新研發第三代半導體的測試解決方案。泰克将本土化作為核心競争力之一，自2022年在中國成立先進半導體開放實驗室以來，已累計免費為超過300人次提供服務，測試器件種類超過1000種，是國内面向第三代半導體功率器件方向，測試能力卓越，綜合能力領先的實驗室；同時也是客戶實測和交流的平台。
為了更好的銜接客戶測試需求，應對新技術應用場景，現在實驗室再次更新，泰克創新實驗室V2.0橫空出世，裝置再更新，能力再更新。此次更新包括了GaN器件開關測試和動态導通電阻測試、SiC功率器件的短路測試、雪崩測試，以及更全面的靜态參數和電容參數測試系統。此外，實驗室還引入了全新的面向第三代半導體功率器件的可靠性測試系統，以滿足日益增長的測試需求。
泰克創新實驗室緻力于打造一個完整的生态平台，通過線上線下多元化的互動方式，促進行業内外的交流與合作。實驗室的重新揭幕，不僅标志着其在測試技術領域的新裡程碑，也預示着泰克本土化程序的進一步深化加強。泰克将與合作夥伴更密切的合作，以泰克測試解決方案為核心，開發更多本土化方案，來解決中國客戶的實際痛點。
我們将以更全面的測試能力，與客戶一起打磨産品，驗證标準，為國産第三代半導體企業提供優質良好的服務，共同推動第三代半導體技術的進一步發展。
DPT1000A動态參數測試系統
DPT1000A功率器件動态參數測試系統，于2021年首度推出，旨在解決客戶在功率器件動态特性表征中常見的疑難問題。泰克公司結合自身在時域波形測量領域的豐富經驗，與國内系統內建商一道，共同定義并開發了這套面向新一代功率器件的動态參數測試系統。這套系統具備高測試帶寬，低寄生參數，相容性強，系統靈活友善更新的特點，系統推出後得到廣大測試工程師的廣泛認可。除了正常的開關參數和反向恢複測試外，DPT1000A還可以完成雪崩測試，短路測試，測試期間種類涵蓋Si MOSFET，IGBT，PMOS，SiC，GaN等，系統具備極高的靈活性，适配多種測試标準。
SPT1000A 靜态參數測試系統
SPT1000A靜态參數測試系統可用于各類二極管、三極管、絕緣栅型場效應管、結型場效應管、單向和雙向可控矽、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽二極管等各類分立器件的靜态參數測試。
系統搭配了業界領先的源表（SMU）和精密LCR表。使得本系統可以在3kV和1000/2000A的條件下實作精确測量和參數分析，漏電流測試分辨率高達fA級，電壓測試分辨率最高可達nV級，以及3000V高壓下的寄生電容的精密測量。本系統不僅适用于傳統矽基功率器件，也可用于新型功率半導體器件如碳化矽、氮化镓、氧化镓等的靜态參數測試。
SPT1000A在測試夾具設計上采用一站式設計，被測件插入夾具後，可以一次性完成高壓、大電流，寄生電容相關測試，無需更換測試夾具和測試連接配接，簡化操作步驟，提高測試效率。系統支援加溫測試，外置選配熱流儀可以進行高溫低溫。
HTXB-1000B動靜态綜合老化測試系統
DHTXB-1000A動靜态綜合老化測試系統針對第三代半導體功率器件，參考AQG-324标準，根據特有的器件特性和失效機理，在加速老化條件下，有針對性的施加特定壓力條件（包括靜态壓力和動态壓力），用以測試器件的漏流名額，以及其他特性參數（例如門檻值電壓，導通電阻等關鍵名額），用以表征器件的老化特性和工作壽命。可以讓器件生産廠商和器件使用者在較短時間内了解功率器件的老化特性，以及長期使用條件下的性能變化，為器件實際應用過程中可能出現的故障進行預判和分析。
DHTOL-1000B 功率器件工況老化測試平台
以SiC和GaN為代表的第三代半導體功率器件，由于其相對較短的面市曆史，目前器件的可靠性與壽命分析仍屬于科研前沿。在這一背景下，老化測試方法尚未形成統一标準。然而，在一些行業領先廠商和标準化組織的積極推動下，例如JEP180，針對功率器件的高溫度操作壽命（HTOL）測試方法正逐漸成為評估這些新型功率器件老化特性的新興手段。
HTOL測試方法的主要優勢在于其能夠模拟器件在實際工作環境下的老化過程。通過在高溫條件下加速器件的退化過程，該方法能夠在較短的時間内獲得關于器件老化特性的寶貴資料。這些資料不僅對使用者具有較高的說服力，而且對于産品的保修期限和維護計劃的制定具有重要指導意義。
此外，通過在特定拓撲結構的電源電路中進行硬開關測試，HTOL方法能夠有效預測器件在特定工作條件下的預期壽命。這不僅為産品的可靠性評估提供了科學依據，同時也幫助設計者深入了解器件在預期壽命周期内的性能表現，進而在産品開發和優化過程中做出更加精準的決策。
關于泰克科技
泰克公司總部位于美國俄勒岡州畢佛頓市，緻力提供創新、精确、操作簡便的測試、測量和監測解決方案，解決各種問題，釋放洞察力，推動創新能力。70多年來，泰克一直走在數字時代前沿。歡迎加入我們的創新之旅，敬請登入：tek.com.cn