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三相全橋MOS管驅動電路調試記錄 - H.D

三相全橋MOS管驅動電路調試記錄

2016-04-07

  • 未接入全橋時,電流轉電壓測量波形包含噪聲,周期約為17us左右,幅值為120mV左右,振蕩周期約為1.3us左右,如下圖所示。經過運放放大10倍後的波形中噪聲減弱,猜測是因為運放内部的頻帶限制使高頻噪聲衰減,同時猜測該高頻噪聲來自于開關電源。
三相全橋MOS管驅動電路調試記錄 - H.D
  • 接入MOS管并且加入24V電壓後,IR2136的輸出驅動電壓如圖所示:

    測試程式:A相的上下MOS管以10ms導通時間交替導通;B相與C相都鎖定不導通。

    低端MOS管如圖黃色通道1所示,導通完全正常;可是高端MOS管在導通接近2ms後就直接關閉,目前原因尚不清楚。

三相全橋MOS管驅動電路調試記錄 - H.D
  • 與上圖對應的A相橋臂輸出波形如圖所示:

    可見高端MOS管的導通與上圖的驅動波形相對應。

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  • 後續任務:
  1. 閱讀IR2136晶片資料手冊,弄清自舉驅動晶片的具體工作原理,并弄清楚導通時間的受影響因素。
  2. 增加測試:減小交替導通時間為2ms左右,觀察MOS管橋臂的導通情況。
  3. 可能是因為自舉電容充電時增加了限流電阻?