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如何解決MLED模組内亮度和顔色不均勻問題?卡萊特全鍊路 COB 校正方案來破解

作者:投影時代

随着LED技術和顯示需求的不斷提升,MLED(Mini/Micro LED)作為新一代顯示技術正迅速嶄露頭角。高工産研LED研究所(GGII)預計,2025年全球Micro LED市場規模将達35億美元,2027年有望達到100億美元大關。

百億藍海市場爆發的背後

是什麼力量在助推?

面對點間距在1mm以下的真正微小間距,對技術路線要求也更加嚴苛。COB封裝技術憑借着高防護性、高密度、高對比度、壞燈少、壽命長等優勢,解決了随着LED螢幕點間距縮小而面臨的可靠性問題,成為了MLED發展的技術新引擎。

但是由于COB 封裝技術的混燈、分光分色困難,以及晶片等物料的制造精度等原因,易造成模組内亮度和顔色不均勻、模組間存在色差等問題。為了解決這些問題,COB校正就成為了必不可少的環節。

卡萊特推出了CCM6000巨量像素校正系統解決方案和Mica産線自動化校正解決方案,形成了從生産到現場的全鍊路 COB 校正,助力MLED高品質發展。

如何解決MLED模組内亮度和顔色不均勻問題?卡萊特全鍊路 COB 校正方案來破解

【COB校正全流程】

CCM6000巨量像素校正系統解決方案

卡萊特自研的科學級校正相機CCM6000配合校正軟體Calibration Pro,高效率、高精度地實作了整屏校正、單箱校正,為COB螢幕校正注入新動力。

相機中的CIE1931-XYZ 濾光片精準地模拟了人眼對螢幕亮度和顔色的感覺,還原真實的視界。

相機搭載了16bit高精度感光晶片,配合恒溫制冷系統,具有極高的采集精度和穩定性,可精準采集螢幕上每顆燈珠的亮色度資訊。配合Calibration Pro軟體對COB螢幕的算法優化,能有效解決COB螢幕模組内不均勻、模組間色塊等問題。

色塊問題

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不均勻問題

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【校正前後對比】

相機具有超過6000萬像素的超高分辨率,單個分區可以采集3840x2160 LED燈點,采用USB3.0作為其資料傳輸接口,具有高達2.5Gbps的傳輸速度,一台箱體的校正僅需1分鐘,而且單次校正流程就可以自動完成高亮和低亮校正,大幅提升了COB螢幕的校正效率。

Mica産線自動化校正解決方案

Mica産線自動化校正解決方案,在原有的巨量像素校正系統基礎上,解決了COB産品墨色差異、校正效果和位置相關的問題。

Mica是卡萊特自主研發的能夠智能化自動檢測并揀出不良品的産線自動化檢測系統。

該系統內建了科學級圖像采集儀器、生産流水線裝置、資料存儲管理伺服器,實作了從PCB到成品燈闆墨色分選、産品點亮的多角度缺陷檢測、單模組産線自動化校正、再到現場智能資料維護的全鍊路校正。

而且亮度校正約220pcs/h,色度校正約120pcs/h,實作了高效率、高精度校正。

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【卡萊特産線自動化校正流程】

除了檢測技術的提升,Mica系統還實作了智能數字化管理,該系統還包含管理平台、雲存儲伺服器、作業控制平台等子產品。

校正過程中資料自動和産品條碼綁定,上傳到雲平台,客戶可以在全球範圍内使用軟體探測螢幕模組資訊,從雲平台下載下傳對應的模組系數自動比對,解決了系數維護等衆多困難。

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【卡萊特産線自動化校正系統】

卡萊特的兩大校正方案相輔相成,通過全鍊路的檢測校正和資料管理,實作了對工業産品生産的全流程管理,提升了生産效率和檢測效果。放眼未來,卡萊特将持續保持前瞻性思維,深耕顯示控制領域,推動技術創新與産品更新,為建構MLED産業生态、實作高品質發展貢獻力量。