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半導體前道量檢測裝置行業研究:先進制程關鍵裝置

作者:未來智庫

(報告出品方/作者:國海證券,姚健、杜先康)

1、電子束檢測是先進制程關鍵裝置

量檢測裝置是晶片良率的關鍵保障

根據不同工序,半導體檢測分為前道量檢測、後道檢測及實驗室檢測,其中,前道量檢測主要應用于晶圓加工環節,目前以廠内産線線上監控為主;後道檢測主要應用于晶圓加工後的晶片電性測試及功能性測試,目前主要分為第三方測試和廠内産線線上監控;實驗室檢測主要針對失效樣品進行缺陷定位和故障分析,目前主要分為第三方實驗室檢測和廠内自建實驗室。

前道量檢測裝置具有兩大類功能,一是確定IC産線量産良率,二是定量監控生産裝置,為裝置驗收、維保提供依據。按技術手段,前道量檢測裝置主要分為光學檢測、電子束檢測以及X光檢測裝置,本文旨在分析電子束檢測裝置的基本原理、發展趨勢、供求狀況。

電子束檢測助力先進制程發展

光學檢測存在分辨率瓶頸。分辨率是指儀器能夠清晰分開兩點間的最小距離,根據abbe公式,儀器分辨率的提升方式主要包括:1)減小照明波長,2)增大孔徑角。入射波長是影響光學顯微鏡分辨率的主要因素,受可見光波長範圍(400-760nm)的限制,光學顯微鏡的極限分辨率約為200nm。

先進制程對光學檢測提出較大挑戰。光學檢測目前是半導體品質控制的主要技術,具有速度快、無接觸、易于線上內建等優勢。為了提高檢測精度,目前最先進的量檢測裝置所使用的光源波長已包含DUV波段,同時不再單純依靠解析晶圓上的圖案來捕捉缺陷,而是通過結合深度的圖像信号處理軟體和算法,在有限的信噪比圖像中尋找微弱的異常信号,能夠檢測的制程水準進一步提升。然而随着工藝節點繼續發展,相比真正的缺陷,噪聲在檢測結果中的比例顯著提升,光學檢測在先進節點應用中的可靠性降低。

二次電子是掃描電子顯微鏡的主要成像信号。掃描電子顯微鏡(SEM)的基本原理是,利用電子槍發射電子束經聚焦後在試樣表面作光栅狀掃描,通過檢測電子與試樣互相作用産生的各類信号(二次電子、背散射電子、吸收電子、俄歇電子和特征X射線等),分析試樣表面的成分、形貌及結構。在掃描電子顯微鏡(SEM)中,用于成像的信号主要是二次電子,其次是背散射電子和吸收電子,用于分析成分的信号主要是X射線和背散射電子。

多電子束方案能夠提升檢測速度。傳統SEM的最大成像速度始終受到庫倫互相作用、探測器帶寬的限制,可以通過多電子束方案提升檢測效率,是電子束檢測的重要方向;然而,根據《內建電路産業全書》,若要達到與光學檢測相同的檢測速度,需要實作數百甚至數千電子束的并行運作,裝置成本将會大幅提升,研究熱點是在系統複雜性、整機成本與檢測效率之間取得平衡。

電子束檢測市場有望快速增長。根據VLSI統計,2023年全球半導體前道量檢測裝置市場中,光學、電子束、X光技術占比分别為81.4%、14.2%、2.3%。相比光學檢測技術,電子束技術速率較慢、裝置成本較高,然而檢測精度較高。根據MMR,2022年全球電子束檢測市場中,1nm以下應用占比過半,随着內建電路工藝節點減小,缺陷尺寸減小、缺陷密度增加、漏檢風險逐漸提升,電子束檢測技術具有顯著的分辨率優勢,且對于電性缺陷具有獨特的識别能力,2022-2029年全球電子束檢測市場有望快速增長,CAGR預計為19.9%,2029年10nm以上應用将成為電子束技術的主要市場。

2、國内電子束檢測裝置市場有望快速發展

先進制程及配套産業鍊有望加速發展

國家內建電路産業投資基金三期(簡稱“大基金三期”)于2024年5月24日正式成立,注冊資本3440億元,資金規模超過大基金一期(987.2億元)、大基金二期(2041.5億元)總和。 大基金一期:主要聚焦于內建電路制程環節,根據皮書資料庫,截至2018年6月,制造、設計、封測和裝備材料等領域投資占比分别為63%、20%、10%和7%。 大基金二期:在産業鍊上遊裝置、零部件及材料的投資力度加大,根據芯思想統計,截止2022年3月31日,晶圓制造、內建電路設計工具及晶片設計、封裝測試、裝備/零部件/材料、應用等領域投資占比分别為75%、10%、2.6%、10%和2.4%。大基金三期:考慮大陸在先進制程上的短闆,以及配套的上遊裝置、零部件、材料、EDA及IP等供應鍊存在“卡脖子”問題,先進制程及其配套産業鍊或将成為大基金三期的重點發力方向。半導體前道量檢測裝置目前國産化率僅個位數,電子束檢測裝置是先進制程晶片良率的關鍵保障,未來有望加速發展。

2024年全球/中國大陸量檢測裝置市場空間為159/55億美元

根據VLSI統計,2020/2023年全球量檢測裝置市場空間為76.5/128.3億美元,CAGR為18.8%;2023年全球半導體量測/檢測裝置市場空間分别為39.5/87.1億美元,光學/電子束/X光檢測裝置市場空間分别為104.4/18.2/3.0億美元。

我們測算,2024/2025年全球半導體量檢測裝置市場空間分别為159/196億美元,中國大陸半導體量檢測裝置市場空間分别為55/68億美元,全球電子束量檢測裝置市場空間分别約為25/34億美元,其中,電子束關鍵尺寸量測市場空間分别為11/15億美元,電子束缺陷檢測市場空間分别為6/8億美元,電子束缺陷複查裝置市場空間分别為8/10億美元。

假設1:2023年全球半導體裝置市場中,半導體量檢測裝置的市場佔有率為12%,2024/2025年逐年+1%。

假設2:2024/2025年全球量測/檢測裝置的市場佔有率維持2023年30.8%/67.9%;量測裝置中,關鍵尺寸/套刻精度/晶圓薄膜/掩膜版/三維形貌量測裝置的市場佔有率維持2023年15.5%/6.7%/4.5%/1.1%/0.6%,其中,晶圓媒體薄膜量測/晶圓金屬薄膜量測裝置的市場佔有率維持2023年3.9%/0.6%;檢測裝置中,圖形晶圓/掩膜版缺陷檢測/無圖形晶圓缺陷檢測裝置的市場佔有率維持2023年35.6%/14.1%/10.3%,其中,明場納米圖形晶圓缺陷檢測/暗場納米圖形晶圓缺陷檢測/晶圖形晶圓缺陷檢測裝置的市場佔有率維持2023年19.5%/8.4%/7.7%;

假設3:随着先進制程、複雜器件的持續發展,電子束檢測技術優勢愈發明顯,2024/2025年電子束技術的市場佔有率相比2023年14.2%逐年+1.5pct,光學技術的市場佔有率相比2023年81.4%逐年-1.3pct,X光技術的市場佔有率相比2023年2.3%逐年-0.2pct;電子束技術中,2023年電子束關鍵尺寸量測/電子束缺陷檢查/電子束缺陷複查裝置裝置的市場佔有率分别為6.6%/3.3%/4.3%,2024/2025年逐年+0.5pct/+0.5pct/+0.5pct。

假設4:2024/2025年中國大陸半導體裝置的全球市場佔有率維持2023年的34.4%,量檢測裝置的全球市場佔有率與半導體裝置一緻。

3、電子束檢測裝置國産替代空間廣闊

全球:國際巨頭主導電子束檢測裝置市場

全球電子束檢測裝置市場集中度較高,歐美、日本企業處于壟斷地位。根據VLSI資料統計,2023年全球半導體量檢測裝置行業CR5超過84%,主要包括KLA、應用材料、日立等,其中柯磊半導體市占率高達55.8%。電子束檢測裝置方面,根據應用材料統計,2021年應用材料、日立、阿斯麥、KLA等企業市占率分别為50%、28%、15%、6%。

國内:電子束檢測裝置國産替代空間廣闊

電子束檢測裝置國産供應商稀缺。中國大陸半導體量檢測市場中,裝置國産化率較低,國際巨頭處于市場主導地位,根據VLSI資料統計,2023年KLA市占率達55.8%。國産半導體量檢測裝置供應商主要包括上海精測、中科飛測、上海睿勵等,2023年上海精測、中科飛測收入分别為3.32億元、8.91億元,國内市占率分别為1.06%、2.84%。電子束檢測裝置領域,目前國内主要供應商包括上海精測、東方晶源。

精測電子:明場檢測持續發展,DR-SEM國内領先

先進制程DR-SEM實力領先。電子束檢測方面,公司是國内極少數擁有完全自主知識産權的掃描電子顯微鏡企業,開發和突破了超高分辨率掃描電子顯微鏡技術,适用于1x nm先進內建電路的工藝缺陷的自動檢測。公司電子束裝置已取得國内一線客戶的批量訂單,電子束缺陷複查裝置已取得先進制程重複性訂單。

中微公司:刻蝕裝置國内領跑者,加速布局量檢測賽道

持續豐富關鍵裝置品類,或将發力電子束檢測市場。中微公司成立于2004年,主營産品包括刻蝕裝置、MOCVD裝置、薄膜沉積裝置及VOC裝置等,據科創闆日報,未來5-10年公司計劃覆寫50%-60%的內建電路關鍵裝置。中微公司通過投資睿勵儀器布局量檢測賽道,未來會考慮涉足電子束檢測裝置市場。

報告節選:

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(本文僅供參考,不代表我們的何投資建議。如需使用相關資訊,請參閱報告原文。)

精選報告來源:【未來智庫】。未來智庫 - 官方網站

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