【STM32筆記】HAL庫ADC測量精度提高方案（利用内部參考電壓VREFINT計算VDDA來提高精度）
多數STM32的MCU 都沒有内部基準電壓 如L496系列
但在外接VDDA時（一般與VCC 3.3V連接配接） 有可能VCC不穩定 導緻參考電壓不确定 進而使ADC測量不準确
STM32内置一個測量VREFINT的ADC通道 且在寄存器VREFINT_CAL中會存儲在3.0V标準電壓的情況下 該VREFINT的ADC測量資料結果（12位精度）
STM32L496的VREFINT_CAL位址如圖 該值為16位資料
讀取時：
我讀出來是1655
該值表示此晶片在30℃ 3.0V的标準電壓下的VREFINT測量結果
根據手冊：
由公式3即可校準ADC的測量
比如我對VREFINT的ADC測量出來是1400
我要測的ADC通道是1500
則實際被測ADC通道實測值為：
代碼示例：
我用ADC1來測量VREFINT 一定要配置為12位精度 友善計算
另外 ADC2 通道9是我要測的電壓
STM32的ADC最大的轉換速率為1MHz,也就是說最快轉換時間為1us，為了保證ADC轉換結果的準确性，ADC的時鐘最好不超過14M。
其中 T = 采樣時間 + 12.5個周期，其中1周期為1/ADCCLK
例如，當 ADCCLK=14Mhz 的時候，并設定 1.5 個周期的采樣時間，則得到： Tcovn=1.5+12.5=14 個周期=1us。
當ADCCLK=50Mhz的時候，設定37.5個采樣周期 37.5+12.5=50
/*!
* @brief 開啟ADC通道，傳回ADC值
*
* @param [in] hadc: ADC_HandleTypeDef 變量位址
*
* @return ADC_Value: ADC平均值結果
*/
uint16_t Get_ADC_Value(ADC_HandleTypeDef *hadc)
{
uint16_t ADC_Value=0;
HAL_ADCEx_Calibration_Start(hadc,ADC_SINGLE_ENDED);
HAL_ADC_Start(hadc); //啟動ADC轉換
HAL_ADC_PollForConversion(hadc, 5); //等待轉換完成，5為最大等待時間，機關為ms
if(HAL_IS_BIT_SET(HAL_ADC_GetState(hadc), HAL_ADC_STATE_REG_EOC))
{
ADC_Value = HAL_ADC_GetValue(hadc); //擷取AD值
}
return ADC_Value;
}
/*!
* @brief 計算ADC的真實值，包含VREFINT校準後的結果
*
* @param [in] hadc: ADC_HandleTypeDef 變量位址
*
* @return ADC_Real_Value: ADC校準後的真實值
*/
float Get_Real_ADC_Value(ADC_HandleTypeDef *hadc)
{
uint16_t VREFINT_DATA = Get_ADC_Value(&hadc1);
uint16_t ADC_DATA = Get_ADC_Value(hadc);
float ADC_Real_Value = 3.0f*VREFINT_CAL*ADC_DATA/VREFINT_DATA/4095.0f;
return ADC_Real_Value;
}
兩個通用函數
調用方式
這樣測出來就不用考慮VDDA電壓是否穩定了 在一定範圍内還是相對來說比較精确的