單元測試:
測試對象為最小的可執行單元,是最基礎的測試。
內建測試:
已經經過單元測試的單元子產品之間的測試。
big bang:一次性內建,把大部分的單元子產品都集合起來,形成一個子系統,來測試。
自頂向下:
自底向上:最常用的內建測試方法。
核心系統內建:
高頻內建:
靈活方式開發:核心系統內建+高頻內建
瀑布式開發:自頂向下+自底向上
單元測試:針對詳細設計,針對子產品内部,一般模拟測試環境,
內建測試:針對概要設計,針對子產品之間的接口,一般模拟測試環境,
系統測試:
将經過內建測試的軟體作為一個部分,與系統中其他部分,結合起來測試運作。大多用真實的環境。包括功能測試、性能測試、等多種測試。關注系統本身使用的問題,關注被測系統與其他相關系統的關聯性,關注不同使用壓力下的表現比如大并發量等極限場景,關注系統在真實環境下的表現。
內建測試與系統測試差別:
內建測試:對象是通過了單元測試的各個子產品而內建起來的各個建構;測試時間比系統測試早;偏向技術角度驗證測試;
系統測試:對象是除了軟體還有硬體等整個系統;測試時間比內建測試晚;偏向業務角度驗證測試;
驗收測試(傳遞測試):
最後的測試,由使用者決定是否接受這個系統的功能。