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《MiniPRO H750开发指南》第四十二章 FLASH模拟EEPROM实验

第四十二章 FLASH模拟EEPROM实验​

STM32H750本身没有自带EEPROM,但是STM32H750具有IAP(在应用编程)功能,所以我们可以把它的FLASH当成EEPROM来使用。本章,我们将利用STM32H750内部的FLASH来实现第三十六章实验类似的效果,不过这次我们是将数据直接存放在STM32H750内部,而不是存放在NOR FLASH。​

本章分为如下几个小节:​

42.1 STM32H750 FLASH简介 ​

42.2 硬件设计​

42.3 程序设计​

42.4 下载验证​

42.1 STM32H750 FLASH简介​

STM32H750内部只有128K FLASH,仅有1个扇区,STM32H750的闪存模块组织如表42.1.1所示:​

块​ 名称​ FLASH起始地址​ 大小​
BANK1​ 扇区0​ 0X0800 0000-0X0801FFFF​ 128K​
系统存储器​ 0X1FF0 0000-0X1FF1FFFF​ 128K​

表42.1.1 STM32H750闪存模块组织​

STM32H750为了节省成本,内部仅包含1个用户扇区(Sector0),大小为128K。另外,内部还有一个128K的系统存储区,用于存储ST自己的BootLoader程序等,不过这个128K用户是无法访问的。​

关于STM32H750内部FLASH的详细说明,详见《STM32H7xx参考手册_V7(英文版)》第4.3节相关内容。 ​

在执行闪存写操作时,任何对闪存的读操作都会锁住总线,在写操作完成后读操作才能正确地进行。既在进行写或擦除操作时,不能进行代码或数据的读取操作。​

42.1.1 闪存的读取​

为了准确读取 Flash 数据,必须根据ACLK时钟rcc_aclk) 频率和Vcore电压范围在 Flash 存取控制寄存器 (FLASH_ACR) 中正确地设置等待周期数 (LATENCY)。Flash 等待周期与ACLK时钟频率之间的对应关系,如表42.1.1.2所示:​

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表42.1.1.2 ACLK时钟(rcc_aclk)频率对应的FLASH等待周期表​

等待周期通过FLASH_ACR寄存器的LATENCY[2:0]三个位设置。系统复位后,CPU时钟频率为内部64M RC振荡器(HSI),LATENCY默认是0,即0个等待周期。为了得到更佳的FLASH访问性能,我们设置Vcore电压范围为VOS1级别(1.15V~1.26V)。rcc_aclk和rcc_hclk3的频率是一样的,都是来自RCC_D1CFGR的HPRE[3:0]分频,rcc_hclk3我们一般设置的是240Mhz,这样rcc_aclk也是240Mhz的频率。我们设置等待周期为4(LATENCY[2:0]=4),否则FLASH读写可能出错,导致死机。寄存器的设置和HAL库的是不一样的,这个请大家注意一下。这个知识点我们在11.2.1小节讲解过,请回顾。​

STM32H750的FLASH读取是很简单的。例如,我们要从地址addr,读取一个字(一个字为32位),可以通过如下的语句读取:​

Data = *(volatile uint32_t *)faddr;​

将faddr强制转换为volatile uint32_t指针,然后取该指针所指向的地址的值,即得到了faddr地址的值。类似的,将上面的volatile uint32_t改为volatile uint8_t,即可读取指定地址的一个字节。相对FLASH读取来说,STM32H750 FLASH的写就复杂一点了,下面我们介绍STM32H750闪存的编程和擦除。​

42.1.2 闪存的编程和擦除​

在对 STM32H750的Flash执行写入或擦除操作期间,任何读取Flash的尝试都会导致总线阻塞。只有在完成编程操作后,才能正确处理读操作。这意味着,写/擦除操作进行期间不能从Flash中执行代码或数据获取操作。​

特别注意:因为STM32H750内部仅有1个扇区,所以在执行对该扇区的擦除或者写入操作时,是无法执行内部FLASH代码的,因此,必须外扩QSPI FLASH,将擦除/编程内部扇区相关的代码放到外部QSPI FLASH,这样才可以实现对内部FLASH的正常擦除及写入操作。​

STM32H750用户闪存的编程一般由5个32位寄存器控制,他们分别是:​

  • FLASH访问控制寄存器(FLASH_ACR)​
  • FLASH秘钥寄存器1(FLASH_KEYR1) ​
  • FLASH状态寄存器1(FLASH_SR1) ​
  • FLASH控制寄存器1(FLASH_CR1) ​
  • FLASH清除与控制寄存器1(FLASH_CCR1) ​

注意:这里的FLASH_KEYR1、FLASH_SR1、FLASH_CR1、FLASH_CCR1分别对应Bank1的相关寄存器,所以单个Bank的控制寄存器由:FLASH_KEYR、SR、CR和CCR等四个寄存器控制。下面,我们直接以FLASH_KEYR、FLASH_CR、FLASH_SR和FLASH_CCR来介绍相关操作。​

STM32H750复位后,FLASH编程操作是被保护的,不能写入FLASH_CR寄存器;通过写入特定的序列(0X45670123和0XCDEF89AB)到FLASH_KEYR寄存器才可解除写保护,只有在写保护被解除后,我们才能操作相关寄存器。​

FLASH_CR的解锁序列为:​

  1. 写0X45670123到FLASH_KEYR​
  2. 写0XCDEF89AB到FLASH_KEYR​

通过这两个步骤,即可解锁FLASH_CR,如果写入错误,那么FLASH_CR将被锁定,直到下次复位后才可以再次解锁。 ​

STM32H750闪存的编程位数固定为256位,也就是每次写入数据必须为8个字(32字节),如果不够8个字,可以在后面进行补零写入,否则后续的内容将不可预知。而且,写入首地址必须是32的整数倍,否则会影响前后数据。​

举例来说,假设我们要往:0X0810 0000这个地址写入一个字节的数据,则写入一个字节数据的同时,也会影响接下来31字节的内容,因此,如果你只需要写入一个字节,则可以将后面的31字节全部填充成0,然后组成一个32字节数组(256位),一次写入。而且,如果你写入数据的首地址不是32的倍数,比如往0X0810 0004这里,写入1个字节数据,则会把地址:0X0810 0000 ~ 0X0810 0003的数据也损坏掉(擦除)。所以,记住STM32H7 FLASH写入的规则:写入首地址必须是32的倍数,写入数据长度必须是32字节的倍数。​

FLASH配置步骤​

STM32H750的FLASH在编程的时候,也必须要求其写入地址的FLASH是被擦除了的(也就是其值必须是0XFFFFFFFF),否则无法写入。STM32H750的标准编程步骤如下:​

1,检查FLASH_CR的LOCK是否解锁,如果没有则先解锁​

2,检查FLASH_SR中的BSY位,确保当前未执行任何FLASH操作。​

3,设置FLASH_CR寄存器的PSIZE[1:0]为2,按字写入(32位写入)。​

4,将FLASH_CR寄存器中的PG位置1,激活FLASH编程。​

5,在指定的存储器地址,写入数据(一次写入32字节,不能超过32字节)​

6,等待BSY位清零,完成一次编程。​

按以上六步操作,就可以完成一次FLASH编程。不过需要注意:编程前,要确保要写如地址的FLASH已经擦除。​

在STM32H750的FLASH编程的时候,要先判断缩写地址是否被擦除了,所以,我们有必要再介绍一下STM32H750的闪存擦除,STM32H750的闪存擦除分为两种:扇区擦除和块擦除。​

扇区擦除步骤如下:​

1,检查FLASH_CR的LOCK是否解锁,如果没有则先解锁。​

2,检查FLASH_SR寄存器中的BSY 位,确保当前未执行任何FLASH操作。​

3,在FLASH_CR寄存器中,将SER位置1,并设置SNB=0(只有1个扇区,扇区0)。​

4,将FLASH_CR寄存器中的START位置1,触发擦除操作。​

5,等待BSY位清零。​

经过以上五步,就可以擦除某个扇区。本章,我们只用到了STM32H750的扇区擦除功能。块擦除功能我们在这里就不介绍了,想了解的朋友请看《STM32H7xx参考手册_V7(英文版).pdf》的相关内容。​

42.1.3 FLASH寄存器​

  • Flash访问控制寄存器(FLASH_ACR)​Flash访问控制寄存器描述如图42.1.3.1所示:​
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  • 图42.1.3.1 FLASH_ACR寄存器​

    WRHIGHFREQ[1:0]位,用于控制FLASH编程操作时的延迟,必须根据FLASH操作频率(rcc_aclk)进行正确的设置:00,rcc_aclk≤85Mhz;01,rcc_aclk≤185Mhz;10,rcc_aclk≤285Mhz;​

    11,rcc_aclk≤385Mhz;我们的rcc_aclk设置的是240Mhz,设置WRHIGHFREQ[1:0]=10即可。​

    LATENCY[2:0]位,用于控制FLASH读延迟,必须根据我们MCU内核的工作电压和频率,来进行正确的设置,否则,可能死机,设置规则见表42.1.1.2。 ​

  • 存储区1的FLASH密钥寄存器(FLASH_KEYR1)​存储区1的FLASH密钥寄存器描述如图42.1.3.2所示:​
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  • 图42.1.3.2 FLASH_KEYR1寄存器​

    该寄存器主要用来解锁FLASH_CR,必须在该寄存器写入特定的序列(KEY1和KEY2)解锁后,才能对FLASH_CR寄存器进行写操作。​

  • 存储区1的FLASH控制寄存器(FLASH_CR1)​存储区1的FLASH控制寄存器描述如图42.1.3.3所示:​
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  • 图42.1.3.3 FLASH_CR1寄存器​

    LOCK位,该位用于指示FLASH_CR寄存器是否被锁住,该位在检测到正确的解锁序列后,硬件将其清零。在一次不成功的解锁操作后,在下次系统复位之前,该位将不再改变。​

    PG位,该位用于选择编程操作,在往FLASH写数据的时候,该位需要置1。​

    SER位,该位用于选择扇区擦除操作,在扇区擦除的时候,需要将该位置1。​

    PSIZE[1:0]位,用于设置编程宽度,我们一般设置PSIZE =2即可(32位)。​

    SATRT位,该位用于开始一次擦除操作。在该位写入1 ,将执行一次擦除操作。​

    SNB[2:0]位,这3个位用于选择要擦除的扇区编号,取值范围为0~7,H750只能设为0。​

    FLASH_CR的其他位,我们就不在这里介绍了,请大家参考《STM32H7xx参考手册_V7(英文版).pdf》 。​

  • 存储区1的FLASH状态寄存器(FLASH_SR1)​

存储区1的FLASH状态寄存器描述如图42.1.3.4所示:​

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图42.1.3.4 FLASH_SR1寄存器​

BSY位:表示BANK当前正在执行编程操作,必须等待该位为0,才可以执行其他操作。​

WBNE位:表示BANK写BUFFER是否为空。当该位为1时,表示写BUFFER里面还有数据待写入FLASH,需要等待该位为0,才表示数据写入全部完成了。​

QW位:表示操作序列里面是否还有编程操作需要执行,需要等待该位为0,才表示所有的编程操作完成了。​

最后,FLASH清除控制寄存器FLASH_CCR用于清除相关错误,这里我们就不做介绍了,详见《STM32H7xx参考手册_V7(英文版).pdf》第3.9.6节。 ​

42.2 硬件设计​

1. 例程功能​

按键KEY1控制写入FLASH的操作,按键KEY0控制读出操作,并在TFTLCD模块上显示相关信息,还可以借助USMART进行读取或者写入操作。LED0闪烁用于提示程序正在运行。​

2. 硬件资源​

1)RGB灯​

RED :LED0 - PB4 ​

2)串口1(PA9/PA10连接在板载USB转串口芯片CH340上面)​

3)正点原子2.8/3.5/4.3/7/10寸TFTLCD模块(仅限MCU屏,16位8080并口驱动)​

4)独立按键 :KEY0 - PA1、KEY1 - PA15​

42.3 程序设计​

42.3.1 FLASH的HAL库驱动​

FLASH在HAL库中的驱动代码在stm32h7xx_hal_flash.c和stm32h7xx_hal_flash_ex.c文件(及其头文件)中。 ​

1. HAL_FLASH_Unlock函数​

解锁闪存控制寄存器访问的函数,其声明如下:​

HAL_StatusTypeDef HAL_FLASH_Unlock(void);      
  • 函数描述:​用于解锁闪存控制寄存器的访问,在对FLASH进行写操作前必须先解锁,解锁操作也就是必须在FLASH_KEYR寄存器写入特定的序列(KEY1和KEY2)。​
  • 函数形参:无​
  • 函数返回值:HAL_StatusTypeDef枚举类型的值。​2. HAL_FLASH_Lock函数​锁定闪存控制寄存器访问的函数,其声明如下:​
HAL_StatusTypeDef HAL_FLASH_Lock (void);      
  • 函数描述:​用于锁定闪存控制寄存器的访问。​
  • 函数形参:无​
  • 函数返回值:HAL_StatusTypeDef枚举类型的值。​3. HAL_FLASHEx_Erase函数​闪存擦除函数,其声明如下:​
HAL_StatusTypeDef HAL_FLASHEx_Erase(FLASH_EraseInitTypeDef *pEraseInit, ​
uint32_t *SectorError);      
  • 函数描述:​该函数用于大量擦除或擦除指定的闪存扇区。​
  • 函数形参:​形参1是FLASH_EraseInitTypeDef结构体类型指针变量。​

    形参2是uint32_t类型指针变量,存放错误码,0xFFFFFFFF值表示扇区已被正确擦除,其它值表示擦除过程中的错误扇区。。 ​

  • 函数返回值:HAL_StatusTypeDef枚举类型的值。​4. FLASH_WaitForLastOperation函数​等待FLASH操作完成函数,其声明如下:​
HAL_StatusTypeDef FLASH_WaitForLastOperation(uint32_t Timeout, uint32_t Bank);      
  • 函数描述:​该函数用于等待FLASH操作完成。​
  • 函数形参:​形参1是FLASH操作超时时间。​

    形参2是等待BANK1还是BANK2操作完成,这里我们用的H750只能选择BANK1。 ​

  • 函数返回值:​

HAL_StatusTypeDef枚举类型的值。​

42.3.2 程序流程图​

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图42.3.2.1 FLASH模拟EEPROM实验程序流程图​

42.3.3 程序解析​

1. STMFLASH驱动代码​

这里我们只讲解核心代码,详细的源码请大家参考光盘本实验对应源码。STMFLASH驱动源码包括两个文件:stmflash.c和stmflash.h。 ​

stmflash.h头文件做了一些比较重要的宏定义,定义如下:​

/*****************************************************************************/​
/* FLASH起始地址 */​
#define STM32_FLASH_BASE 0x08000000  /* STM32 FLASH的起始地址 */​
#define STM32_FLASH_SIZE 0x20000  /* STM32 FLASH总大小 */​
#define BOOT_FLASH_SIZE 0x4000  /* 前16K FLASH用于保存BootLoader */​
#define FLASH_WAITETIME 50000   /* FLASH等待超时时间 */​

/* FLASH 扇区的起始地址,H750xx只有BANK1的扇区0有效,共128KB */​
#define BANK1_FLASH_SECTOR_0 ((uint32_t)0x08000000) /* Bank1扇区0起始地址 */​
/*****************************************************************************/      

STM32_FLASH_BASE和STM32_FLASH_SIZE分别是FLASH的起始地址和FLASH总大小,这两个宏定义随着芯片是固定的,我们开发板的H750芯片的FLASH是128K字节,所以STM32_FLASH_SIZE宏定义值为0x20000。​

比较重要的一个宏定义是BOOT_FLASH_SIZE,因为这个宏定义需要用户根据自己工程的大小设置的。设置方法如下:首先编译我们的工程,通过查看.map文件,查询并计算出程序加载都STM32内部FLASH的指令内存的大小,最后根据这个大小来定义这个宏的值。这里,我们直接编译HAL库实验30 FLASH模拟EEPROM实验的例程,然后如下图操作:​

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图42.3.3 查看程序加载占用FLASH的大小​

首先双击FLASH打开.map文件,然后查询到Execution Region ER_m_stmflash。如图中所示,得到加载到STMFLASH的程序占用的内存大小约为14.2KB。​

因此,BOOT_FLASH_SIZE宏定义的值我们设置为0x4000(即16KB),表示预留STMFLASH的前16K的内存用于保存BootLoader。在本工程中,BOOT_FLASH_SIZE宏定义的值要满足几个条件,一是必须大于14.2KB,二是必须是4的倍数,三是预留一定的空间给BootLoader执行过程的内存消耗。​

FLASH_WAITETIME是FLASH等待超时时间的宏定义。​

BANK1_FLASH_SECTOR_0是Bank1扇区0起始地址,H750xx就只有BANK1的扇区0有效,共128KB。​

下面我们开始介绍stmflash.c的程序,具体程序源码如下:​

/**​
得到FLASH的错误状态​
无​
错误代码​
无错误​
其他, 错误编号​
 */​
static uint8_t stmflash_get_error_status(void)​
{​
 uint32_t res = 0;​
 res = FLASH->SR1;​

 if (res & (1 << 17)) return 1; /* WRPERR=1,写保护错误 */​
 if (res & (1 << 18)) return 2; /* PGSERR=1,编程序列错误 */​
 if (res & (1 << 19)) return 3; /* STRBERR=1,复写错误 */​
 if (res & (1 << 21)) return 4; /* INCERR=1,数据一致性错误 */​
 if (res & (1 << 22)) return 5; /* OPERR=1,写/擦除错误 */​
 if (res & (1 << 23)) return 6; /* RDPERR=1,读保护错误 */​
 if (res & (1 << 24)) return 7; /* RDSERR=1,非法访问加密区错误 */​
 if (res & (1 << 25)) return 8; /* SNECCERR=1,1bit ecc校正错误 */​
 if (res & (1 << 26)) return 9; /* DBECCERR=1,2bit ecc错误 */​

 return 0; /* 没有任何状态/操作完成. */​
}​

/**​
等待操作完成​
要延时的长短​
错误代码​
已完成​
错误代码​
超时​
 */​
static uint8_t stmflash_wait_done(uint32_t time)​
{​
 uint8_t res = 0;​
 uint32_t tempreg = 0;​

 while (1)​
 {​
 tempreg = FLASH->SR1;​

 if ((tempreg & 0X07) == 0)​
 {​
 break; /* BSY=0,WBNE=0,QW=0,则操作完成 */​
 }​

 time--;​

 if (time == 0)return 0XFF;​
 }​

 res = stmflash_get_error_status();​

 if (res)​
 {​
 FLASH->CCR1 = 0X07EE0000; /* 清所有错误标志 */​
 }​

 return res;​
}​

/**​
在FLASH指定地址写8个字,即256bit​
必须以256bit为单位(32字节)编程!!​
指定地址(此地址必须为4的倍数!!)​
要写入的数据​
错误代码​
写入成功​
其他: 错误代码​
 */​
static uint8_t stmflash_write_8word(uint32_t faddr, uint32_t *pdata)​
{​
 volatile uint8_t nword = 8; /* 每次写8个字,256bit */​
 uint8_t res;​
 res = stmflash_wait_done(0XFFFF);​

 if (res == 0) /* OK */​
 {​
 FLASH->CR1 &= ~(3 << 4); /* PSIZE1[1:0]=0,清除原来的设置 */​
 FLASH->CR1 |= 2 << 4;  /* 设置为32bit宽 */​
 FLASH->CR1 |= 1 << 1;  /* PG1=1,编程使能 */​

 while (nword)​
 {​
 *(volatile uint32_t *)faddr = *pdata; /* 写入数据 */​
 faddr += 4;  /* 写地址+4 */​
 pdata++;  /* 偏移到下一个数据首地址 */​
 nword--;​
 }​
 __DSB();  /* 写操作完成后,屏蔽数据同步,使CPU重新执行指令序列 */​
 res = stmflash_wait_done(0XFFFF); /* 等待操作完成,一个字编程,最多100us. */​
 FLASH->CR1 &= ~(1 << 1);/* PG1=0,清除扇区擦除标志 */​
 }​

 return res;​
}​

/**​
读取指定地址的一个字(32位数据)​
要读取的地址​
读取到的数据​
 */​
uint32_t stmflash_read_word(uint32_t faddr)​
{​
 return *(volatile uint32_t *)faddr;​
}​

/**​
从指定地址开始写入指定长度的数据​
特别注意:因为STM32H750只有一个扇区(128K),因此我们规定:​
前16K留作BootLoader用​
后112K用作APP用,我们要做写入测试,尽量使用16K以后的地址,否则容易出问题​
另外,由于写数据时,必须是0XFF才可以写入数据,因此不可避免的需要擦除扇区​
所以在擦除时需要先对前16K数据做备份保存(读取到RAM),然后再写入,以保证​
前16K数据的完整性。且执行写入操作的时候,不能发生任何中断(凡是在写入时执​
行内部FLASH代码,必将导致hardfault)。​
起始地址(此地址必须为32的倍数!!,否则写入出错!)​
数据指针​
字(32位)数(就是要写入的32位数据的个数,一次至少写入32字节,即8个字)​
无​
 */​

/* FLASH 写入数据缓存 */​
uint32_t g_flashbuf[BOOT_FLASH_SIZE / 4];​

void stmflash_write(uint32_t waddr, uint32_t *pbuf, uint32_t length)​
{​
 FLASH_EraseInitTypeDef flash_erase_init_handle;​
 HAL_StatusTypeDef hal_status = HAL_OK;​
 uint32_t SectorError = 0;​
 uint32_t addrx = 0;​
 uint32_t endaddr = 0;​
 uint16_t wbfcyc = BOOT_FLASH_SIZE/32;/* 写bootflashbuf时,需要执行的循环数 */​
 uint32_t *wbfptr;​
 uint32_t wbfaddr;​
/* 写入地址小于STM32_FLASH_BASE+BOOT_FLASH_SIZE,非法. */​
 if (waddr < (STM32_FLASH_BASE + BOOT_FLASH_SIZE))return; ​
 /* 写入地址大于STM32总FLASH地址范围,非法. */​
 if (waddr > (STM32_FLASH_BASE + STM32_FLASH_SIZE))return; ​

 if (waddr % 32)return; /* 写入地址不是32字节倍数,非法. */​

 HAL_FLASH_Unlock(); /* 解锁 */​
 addrx = waddr; /* 写入的起始地址 */​
 endaddr = waddr + length * 4; /* 写入的结束地址 */​

 while (addrx < endaddr) /* 扫清一切障碍.(对非FFFFFFFF的地方,先擦除) */​
{​
/* 有非0XFFFFFFFF的地方,要擦除这个扇区 */​
 if (stmflash_read_word(addrx) != 0XFFFFFFFF) ​
 { ​
/* 读出BOOT_FLASH_SIZE大小数据 */​
 stmflash_read(STM32_FLASH_BASE, g_flashbuf, BOOT_FLASH_SIZE / 4); ​
 INTX_DISABLE(); /* 禁止所有中断 */​
/* 擦除类型,扇区擦除 */​
 flash_erase_init_handle.TypeErase = FLASH_TYPEERASE_SECTORS; ​
 flash_erase_init_handle.Sector = FLASH_SECTOR_0; /* 要擦除的扇区 */​
 flash_erase_init_handle.Banks = FLASH_BANK_1; /* 操作BANK1 */​
 flash_erase_init_handle.NbSectors = 1; /* 一次只擦除一个扇区 */​
/* 电压范围,VCC=2.7~3.6V之间 */​
 flash_erase_init_handle.VoltageRange = FLASH_VOLTAGE_RANGE_3; ​
 hal_status =HAL_FLASHEx_Erase(&flash_erase_init_handle,&SectorError);​
 if (hal_status != HAL_OK)  /* 发生错误了 */​
 {​
 INTX_ENABLE();  /* 允许中断 */​
 break;  /* 发生错误了 */​
 }​
 SCB_CleanInvalidateDCache();  /* 清除无效的D-Cache */​
 wbfptr = g_flashbuf;  /* 指向g_flashbuf首地址 */​
 wbfaddr = STM32_FLASH_BASE;  /* 指向STM32 FLASH首地址 */​
 while (wbfcyc)  /* 写数据 */​
 {​
 if (stmflash_write_8word(wbfaddr, wbfptr)) /* 写入数据 */​
 {​
 break;  /* 写入异常 */​
 }​
 wbfaddr += 32;​
 wbfptr += 8;​
 wbfcyc--;​
 }​
 INTX_ENABLE();  /* 允许中断 */​
 }​
 else​
 {​
 addrx += 4;  /* 偏移到下一个位置 */​
 }​
/* 等待上次操作完成 */​
 FLASH_WaitForLastOperation(FLASH_WAITETIME, FLASH_BANK_1);​
}​
/* 等待上次操作完成 */​
 hal_status = FLASH_WaitForLastOperation(FLASH_WAITETIME, FLASH_BANK_1); ​

 if (hal_status == HAL_OK)​
 {​
 while (waddr < endaddr) /* 写数据 */​
 {​
 if (stmflash_write_8word(waddr, pbuf)) /* 写入数据 */​
 {​
 break; /* 写入异常 */​
 }​
 waddr += 32;​
 pbuf += 8;​
 }​
 }​
 HAL_FLASH_Lock(); /* 上锁 */​
}​

/**​
从指定地址开始读出指定长度的数据​
起始地址​
数据指针​
要读取的字(32)数,即4个字节的整数倍​
无​
 */​
void stmflash_read(uint32_t raddr, uint32_t *pbuf, uint32_t length)​
{​
 uint32_t i;​

 for (i = 0; i < length; i++)​
 {​
 pbuf[i] = stmflash_read_word(raddr); /* 读取4个字节. */​
 raddr += 4; /* 偏移4个字节. */​
 }​
}​
/*****************************************************************************/​
/* 测试用代码 */​

/**​
测试写数据(写1个字)​
起始地址​
要写入的数据​
读取到的数据​
 */​
void test_write(uint32_t waddr, uint32_t wdata)​
{​
 stmflash_write(waddr, &wdata, 1); /* 写入一个字 */​
}      

该部分代码,我们重点介绍一下stmflash_write函数,该函数用于在STM32H750的指定地址写入指定长度的数据,有几个要注意的点:​

  1. 写入地址必须是在BOOT_FLASH_SIZE以后。​
  2. 写入地址必须是32的倍数。​
  3. 单次写入长度必须是32字节的倍数(8个字)。​

第1点重点说明一下,BOOT_FLASH_SIZE是我们在stmflash.h里面定义的一个宏定义,其值为:0X4000,即16K,也就是写入数据必须在16K以后的地址(0X0800 0000 + 0X4000)写入。因为STM32H750内部仅有1个扇区,为了方便做IAP应用,必须把这一个扇区分为2部分:IAP部分和APP部分,我们预留16K地址范围给IAP,所以本例程写入地址必须在16K以后,以便后面的IAP应用。​

另外,由于H750内部只有1个扇区,在擦除扇区的时候,连带所有数据都擦掉了(IAP也擦了),所以,为了能够实现保留IAP的效果,我们在stmflash_write函数里面,执行擦除扇区之前,会先备份前16K的数据,将前16K数据保存到SRAM,然后再擦除扇区,擦除完了以后,再从SRAM里面恢复这16K数据到扇区里面去,这样就可以实现类似擦除扇区但是仍保留前16K数据的效果。需要特别注意的是:在擦除扇区或写入扇区数据的时候,不能执行任何内部FLASH上面的代码!所有相关的代码必须存放到外部QSPI FLASH。体现到本例程就是:stmflash.c的代码,都应该存放到外部QSPI FLASH,而不能存放到H750内部FLASH。 ​

第2点和第3点则是由于STM32H7的FLASH特性,每次写入必须是256位宽,也就是32字节,因此写入首地址必须是32字节的倍数,且写入数据长度必须是32字节的倍数。 ​

另外,在STMFLASH_Write8Word函数里面,有一个__DSB函数,该函数用于屏蔽数据同步,该函数在cmsis_armcc.h里面定义,这里在执行等待操作完成之前,必须调用该函数,否则将无法往FLASH写入数据。 ​

由于我们使用了分散加载(qspi_code.scf),stmflash.c编译后是自动存放到外部QSPI FLASH的,所以不需要做额外的设置。关于分散加载说明,详见:8.2小节。​

2. main.c代码​

在main.c里面编写如下代码:​

/* 要写入到STM32 FLASH的字符串数组 */​
const uint8_t g_text_buf[] = {"STM32 FLASH TEST"};​

#define TEXT_LENTH sizeof(g_text_buf) /* 数组长度 */​

/*SIZE表示字长(4字节), 大小必须是4的整数倍, 如果不是的话, 强制对齐到4的整数倍 */​
#define SIZE TEXT_LENTH / 4 + ((TEXT_LENTH % 4) ? 1 : 0)​

/* 设置FLASH 保存地址(必须大于用户代码区地址范围,且为4的倍数) */​
#define FLASH_SAVE_ADDR 0X08004000 ​

int main(void)​
{​
 uint8_t key = 0;​
 uint16_t i = 0;​
 uint8_t datatemp[SIZE];​

 sys_cache_enable();  /* 打开L1-Cache */​
 HAL_Init();  /* 初始化HAL库 */​
 sys_stm32_clock_init(240, 2, 2, 4);  /* 设置时钟, 480Mhz */​
 delay_init(480);  /* 延时初始化 */​
 usart_init(115200);  /* 串口初始化为115200 */​
 usmart_dev.init(240);  /* 初始化USMART */​
 mpu_memory_protection();  /* 保护相关存储区域 */​
 led_init();   /* 初始化LED */​
 lcd_init();   /* 初始化LCD */​
 key_init();   /* 初始化按键 */​

 lcd_show_string(30, 50, 200, 16, 16, "STM32", RED);​
 lcd_show_string(30, 70, 200, 16, 16, "FLASH EEPROM TEST", RED);​
 lcd_show_string(30, 90, 200, 16, 16, "ATOM@ALIENTEK", RED);​
 lcd_show_string(30, 110, 200, 16, 16, "KEY1:Write KEY0:Read", RED);​

 while (1)​
 {​
 key = key_scan(0);​

 if (key == KEY1_PRES) /* KEY1按下,写入STM32 FLASH */​
 {​
 lcd_fill(0, 150, 239, 319, WHITE); /* 清除半屏 */​
 lcd_show_string(30, 150, 200, 16, 16, "Start Write FLASH....", RED);​
 stmflash_write(FLASH_SAVE_ADDR, (uint32_t *)g_text_buf, SIZE);​
/* 提示传送完成 */​
 lcd_show_string(30, 150, 200, 16, 16, "FLASH Write Finished!", RED); ​
 }​

 if (key == KEY0_PRES) /* KEY0按下,读取字符串并显示 */​
 {​
 lcd_show_string(30, 150, 200, 16, 16, "Start Read FLASH.... ", RED);​
 stmflash_read(FLASH_SAVE_ADDR, (uint32_t *)datatemp, SIZE);​
/* 提示传送完成 */​
 lcd_show_string(30, 150, 200, 16, 16, "The Data Readed Is: ", RED); ​
/* 显示读到的字符串 */​
 lcd_show_string(30, 170, 200, 16, 16, (char*)datatemp, BLUE); ​
 }​

 i++;​
 delay_ms(10);​

 if (i == 20)​
 {​
 LED0_TOGGLE(); /* 提示系统正在运行 */​
 i = 0;​
 }​
 }​
}      

主函数代码逻辑比较简单,当检测到按键KEY1按下后往FLASH指定地址开始的连续地址空间写入一段数据,当检测到按键KEY0按下后读取FLASH指定地址开始的连续空间数据。最后,我们将stmflash_read_word和test_write函数加入USMART控制,这样,我们就可以通过串口调试助手,调用STM32H750的FLASH读写函数,方便测试。​

42.4 下载验证​

将程序下载到开发板后,可以看到LED0不停的闪烁,提示程序已经在运行了。LCD显示的内容如图42.4.1所示:​

《MiniPRO H750开发指南》第四十二章 FLASH模拟EEPROM实验

图42.4.1程序运行效果图​

通过先按KEY1按键写入数据,然后按KEY0读取数据,得到如图42.4.2所示:​

《MiniPRO H750开发指南》第四十二章 FLASH模拟EEPROM实验